正航儀器滑移溶解模型
滑移溶解模型獲得了很多的實驗支持，成功地解釋應(yīng)力腐燭裂紋的穿晶擴(kuò)展。但卻 無法解釋斷裂面的晶體學(xué)取向。如對于面心立方結(jié)構(gòu)的奧氏體不誘鋼，其滑移面是 {111},如果腐燭按照滑移溶解模型，則應(yīng)力腐蝕應(yīng)該發(fā)生在該面上，而事實并非如此。 (2)隨道腐燭模型
隙道腐燭模型認(rèn)為，在平面排列的位錯露頭處，或者新形成的滑移臺階處，處于髙 應(yīng)變狀態(tài)的金屬原子發(fā)生擇優(yōu)腐蝕。腐蝕沿著位錯線向縱深發(fā)展，形成遂洞。當(dāng)應(yīng)力作 用存在時，遂洞之間的金屬產(chǎn)生機(jī)械撕裂。當(dāng)機(jī)械斯裂停止后，又重新開始隨道腐蝕， 最終導(dǎo)致了裂紋的不斷擴(kuò)展，至金屬斷裂。如圖1.4所示。
圖1.4降道腐蝕模型 Fig. 1.4 The tunnel corrosion model
Harston和Scully等用NACE標(biāo)準(zhǔn)溶液溶液室溫應(yīng)力腐燭實驗中發(fā)現(xiàn)，304奧氏體 不繡鋼裂紋擴(kuò)展復(fù)合此模型。但大多數(shù)腐燭斷口形貌為解理斷口，而并非帶有溝槽的平 斷口。所以，這個模型不能作為陽極溶解的主要機(jī)理。 (3)應(yīng)力吸附斷裂模型
這是最早由H.H.Uhlig等人提出一種純機(jī)械開裂模型。該理論認(rèn)為，應(yīng)力腐燭斷裂 是由于在裂紋尖端有某些特殊離子的吸附，削弱了金屬原子間的鍵合力，即金屬表面能 降低，在拉應(yīng)力作用下促使金屬斷裂。
在應(yīng)力腐燭過程中，這種吸附的路線可能是有選擇地沿著金屬中如位錯和點陣缺陷 這樣的一條特殊路線發(fā)生，裂紋就沿著這條路徑擴(kuò)展，即是沿晶裂紋；也可以形成穿晶 裂紋。
如圖1.5所示，某種離子S吸附在裂紋尖端原子上，將降低原子鍵X強(qiáng)度，在拉應(yīng) 力作用下X破裂，并且吸附作用可升高滑移面P的剪力。
應(yīng)力
移艦
表面J9
吸附模型可以解釋某些實驗現(xiàn)象，但其本身的自恰性較差。按照吸附物質(zhì)降低金屬 表面能的假定，表面能下降愈多，應(yīng)力腐燭開裂敏感性愈大。但是，當(dāng)在氣化物溶液中 加入一些比氣離子吸附能力更強(qiáng)的物質(zhì)時，應(yīng)力腐蝕開裂敏感性反而有些下降。同時， 該模型也不能解釋裂紋的孕育期以及吸附離子對位錯的釘扎作用等問題。
1.5應(yīng)力吸附斷裂模型 Fig. 1.5 The stress-adsorption crack model